实验五金属箔式应变片的温度影响实验
一.实验目的
了解温度对应变片测试系统的影响。
二.基本原理
电阻应变片的温度影响,主要来自两个方面。敏感栅丝的温度系数,应变栅线膨胀系数与弹性体(或被测试件)的线膨胀系数不一致会产生附加应变。因此当温度变化时,在被测体受力状态不变时,输出会有变化。
三.需用器件与单元
CGQ-001实验模块、CGQ-013实验模块、应变式传感器、砝码、电压表、±15V 电源、±4V 电源、+5V电源、加热器(已贴在应变片底部)
四.实验步骤
1.保持实验三实验结果。
2.将140g 砝码加于砝码盘上,在电压表上读取某一整数U o1。
3.将5V 直流稳压电源(主控箱)接于实验模块的加热器插孔上,数分钟后待电压表电压显示基本稳定后,记下读数U ot ,U ot –U o1即为温度变化的影响。计算这一温度变化产生的相对误差δ=
U ot -U o 1⨯100%。 U ot
五.思考题
1.金属箔式应变片温度影响有哪些消除方法?
2.应变式传感器可否用于测量温度?