椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告 - 范文中心

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告

06/17

组别:69组 院系:0611 姓名:林盛 学号:PB06210445 实验题目:椭偏仪测量薄膜厚度和折射率

实验目的:了解椭偏仪测量薄膜参数的原理,初步掌握反射型椭偏仪的使用

方法。

实验原理:

椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态的变化量与薄膜的厚度和折

射率有关,因此只要测量出偏振状态的变化量,就能利用计算机程序多次逼近定出膜厚和折射率。参数描述椭圆偏振光的P波和S波间的相位差经薄膜系统关系后发生的变化,描述椭圆偏振光相对振幅的衰减。有超越方程:

tanEpr

EEpi

srE

si

prsrpisi

1

为简化方程,将线偏光通过方位角45的4波片后,就以等幅椭圆

偏振光出射,EpiEsi;改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射,prsr0或,公式化简为:

tanEprEsr pisi

这时需测四个量,即分别测入射光中的两分量振幅比和相位差及

反射光中的两分量振幅比和相位差,如设法使入射光为等幅椭偏光,

Eip/Eis1,则tgErp/Ers;对于相位角,有:

(rprs)(ipis)  ipisrprs

因为入射光ipis连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光,即

rprs=0或(),则(ipis)或(ipis),可见只与

反射光的p波和s波的相位差有关,可从起偏器的方位角算出.对于特定的膜, 是定值,只要改变入射光两分量的相位差(ipis),肯定会找到特定值使反射光成线偏光, rprs=0或()。

实验仪器:椭偏仪平台及配件 、He-Ne激光器及电源 、起偏器 、检偏器 、

四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。

实验内容:

1. 按调分光计的方法调整好主机。

2. 水平度盘的调整。

3. 光路调整。

4. 检偏器读数头位置的调整和固定。

5. 起偏器读数头位置的调整与固定。

6. 1/4波片零位的调整。

7. 将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定的入射角700即望远镜转过

400,并使反射光在白屏上形成一亮点。

8. 为了尽量减小系统误差,采用四点测量。

9. 将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”,经过范围确定后,可以利用逐次

逼近法,求出与之对应的d和n ;由于仪器本身的精度的限制,可将d的误差控制在1埃左右,n的误差控制在0.01左右。

实验数据:

将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序”,利用逐次逼近法,求出与之对应的厚度d和折射率n分别为:

n2.12 d=564nm

误差分析:

实验测得的折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小,其可能原因有:

1. 待测介质薄膜表面有手印等杂质,影响了其折射率。

2. 在开始的光路调整时,没有使二者严格共轴,造成激光与偏振片、1/4波片

之间不是严格的正入射,导致测量的折射率与理论值存在偏差。

3. 消光点并非完全消光,所以消光位置只能由人眼估测,所以可能引入误差。

4. 由于实验中需多次转动及调节、安装仪器,会破坏仪器的共轴特性。虽经多

次调节,但还是会产生误差。

思考题:

1. 1/4波片的作用是什么?

1/4波片使得入射的线偏振光出射后为等幅的椭圆偏振光,从而出射光

的P分量和S分量比值为一,进而使超越方程变得简单。

2. 椭偏光法测量薄膜厚度的基本原理是什么?

让一束椭圆偏振光以一定的入射角入射到薄膜系统的表面,经反射后,

反射光束的偏振状态(振幅和相位)会发生变化,而这种变化与薄膜

的厚度和折射率有关,因此只要能测量出偏振状态的变化量就能定出

膜后和折射率。具体关系反应在下面两个方程中:

r2

tg[1pr22p2r1pr2pcos21r21sr22s2r1sr2scos21/21r22r2]

1pr22p2r1pr2pcos1sr22s2r1sr2scos2

tg1r2p(1r21p)sin21r2s(1r21s)sin2

r(1r22p)r2)cos2tgr22

1p2p(1r1p1s(1r2s)r2s(1r1s)cos2

所以若能利用消光法从实验测出椭偏系数和,原则上就可以解出

薄膜的厚度和折射率。

3. 用反射型椭偏仪测量薄膜厚度时,对样品的制备有什么要求?

样品应为均匀透明各向同性的薄膜系统,反射率较高一点,以便于增

强反射光的强度,而且薄厚均匀透明,从而利于实验的进行和精度要

求。如本实验就是采用硅衬底的均匀透明各向同性的薄膜系统。

4. 为了使实验更加便于操作及测量的准确性,你认为该实验中哪些地方

需要改进?

在判断消光时,由于每个人的判断标准不同,所以容易产生误差。而

且长时间的观察时眼睛观察能力下降,不易判断消光现象。这些会引

起较大误差,我认为可以用精度较高的光电接收器来进行判断。

实验总结:

本实验是光学实验。对于光学试验,最为重要得是光路的调节,光路的调节准确与否,直接影响了试验的精度。因此,要准确调节光路。在安装起偏器和检偏器以后,都要看一看是否依旧保持光线同轴。同时,由于光学仪器本身的精密性,严禁用手触摸。还要轻拿轻放。

本实验巧妙的设计,使光通过1/4波片之后,光变成等幅椭圆偏振光,使得,Eip/Eis1,使得tgErp/Ers

E变为tgErp/Ers,计算可以大

ip/Eis

大的简化。通过调整仪器,使反射光成为线偏光,即rprs0或(),则(ipis)或(ipis),可使问题简化。


相关内容

  • 薄膜厚度和折射率测量实验讲义
    薄膜厚度和折射率测量 实验讲义 一.前言 薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础.很显然,倘若一批单层薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度.阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工.对于复合薄膜,厚度的均匀性更加重要,只有整体厚度均 ...
  • 等厚干涉牛顿环实验报告
    等厚干涉--牛顿环 等厚干涉是薄膜干涉的一种.薄膜层的上下表面有一很小的倾角是,从光源发出的光经上下表面反射后在上表面附近相遇时产生干涉,并且厚度相同的地方形成同一干涉条纹,这种干涉就叫等厚干涉.其中牛顿环是等厚干涉的一个最典型的例子,最早 ...
  • 同济大学波动光学
    第4章 波动光学 4.1 光的干涉 4.1典型例题 -例4-1-1 在双缝干涉实验中,波长= 550 nm的单色平行光垂直入射到缝间距a = 2³104 m的双缝 上,屏到双缝的距离D = 2 m.求:(1)中央明纹两侧的两条第10级明 ...
  • 离子束刻蚀法制作菲涅耳透镜
    2001年 微 细 加 工 技 术 №.1第1期 MicrofabricationTechnology 2001 文章编号:1003Ο8213(2001)01Ο0026Ο05 离子束刻蚀法制作菲涅耳透镜 李红军1,卢振武1,廖江红1,翁志成 ...
  • 光学实验主要仪器.光路调整与技巧
    实验1 光学实验主要仪器.光路调整与技巧 引言 不论光学系统如何复杂,精密,它们都是由一些通用性很强的光学元器件组成,因此掌握一些常用的光学元器件的结构和性能,特点和使用方法,对安排试验光路系统时正确的选择光学元器件,正确的使用光学元器件有 ...
  • 聚吡咯纳米复合材料的制备及光电~
    聚吡咯纳米复合材料的制备及光电性能研究 摘 要 将聚吡咯和纳米粒子结合起来制备的复合材料兼具了导电高分子材料.无机半导 体材料的优势,与此同时这种的复合材料还具有显著的三阶非线性光学性质. 本文拟采用界面氧化聚合法制备聚吡咯膜,通过实验发现 ...
  • 大学物理演示实验报告
    实验一 锥体上滚 [实验目的]: 1.通过观察与思考双锥体沿斜面轨道上滚的现象,使学生加深了解在重力场中物体总是以降低重心,趋于稳定的运动规律. 2.说明物体具有从势能高的位置向势能低的位置运动的趋势,同时说明物体势能和动能的相互转换. [ ...
  • 把_四探针测量金属薄膜电阻率_引入普通物理实验_邱宏
    第23卷第5期2004年5月 大 学 物 理 COLLEGE PHYSICSVol.23No.5May.2004 教学改革 把"四探针测量金属薄膜电阻率"引入普通物理实验 邱 宏,吴 平,王凤平,潘礼庆,黄筱玲,田 跃 ...
  • 公路水运工程试验检测机构等级标准
    公路水运工程试验检测机构等级标准 一.公路工程试验检测机构等级标准1 表2公路工程试验检测能力基本要求及主要仪器设备 等级 序号 项目 主要试验检测参数 颗粒级配,界限含水率,最大干密度,最佳含水率,CBR ,比重,天然稠度,回弹模量,粗粒 ...