主板开机电路检修流程图|
CMOS/跳线
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正确 不正确
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测Power 开关的3.3V或5V 跳回正确位
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正常 不正常
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测南桥旁边的晶振是否起振,
起振电压为0.5V到1.6V左右 查紫线到Power 开关之间电路
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不正常 正常
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更换晶振旁边的滤波电容以 测Power开关到南桥或I/O之间是
及晶振本身 否有低电平输入南桥或I/O
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有 无
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查绿线到南桥或I/O 之间的 查Power 开关到南桥或I/O
电路是否损坏 之间的元件,更换损坏元件
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完好 损坏
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更换南桥或者I/O(视开机电 更换元器件,修复电路
路而言)
注：开机电路常坏元器件器有接绿线的三极管、与开机电路有关的门电路芯片，
关供电的三级管或是二级管等。
Power-南桥或I/O-绿线(开机过程)
|________|_______ |____________(低电平)
还有紫色线给Power 开
CPU 主供电的检修流程图
测Q1的D 极5V
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正常 不正常
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测Q1 G极3-5V控制电压 查电源红线到D 极线路
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正常 不正常
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更换场效应管Q1 把Q1的G 极悬空,测电源控制芯片的输出端电压
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有 无
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更换Q1或Q2 测电源控制芯片的12V和5V供电
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有 无
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测PG 电源好5V(电源灰线) 查R1 及C4,更换
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正常 不正常
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更换电源控制芯片 更换与电源灰线相连的芯片
注：常坏的元器件是电源控制芯 片和场效应管以及R1 限流电阻，一般CPU 供电中15V,2.5V,主供电全无输出
时,电源控制芯片坏的可能性最大,如果只有其中一项输出不正常,则是输出此项的场效应管坏的最多(如Q3 的1.5V输出)。
时钟电路和检修流程图
注：时钟电路是否能工作正常， 前提是供电一定要正常，才有可能正常工作。比较容易损坏的元件有时钟芯片及周围Q1及L1等元件。3.3V 如果是通过晶体管供电,此管也易损坏。
测3.3V和2.5V供电
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正常 不正常
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测晶振的启振电压1.1-1.6V 查Q1或橙色3.3V和L1 等
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有 无
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更换时钟芯片 更换晶振或时钟芯片
复位电路检修流程图
测Reset开关3.3V或5V
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不正常 正常
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查红线到Reset开关之间的电路 测Reset 开关到南桥之间是否
有低电平输出给南桥
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有 否
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测灰线PG 5V 找出Reset开关到南桥 | 之间损坏的元件,更换
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正常 不正常
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更换南桥 找到与灰线相连的元件更换
注：复位电路是否能正常工作前提是供电和时钟是否正常。复位电路常坏的元件有与复位电路有关的门电路芯片以及与灰线相连的晶体管。
BIOS电路检修流程图
测VCC 和 Vpp 供电
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正常 不正常
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测CE/CS是否有跳变 查电源5V和12V到
| Vcc和Vpp之间电路
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不正常 正常
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表示CPU 没选中BIOS 测OE 是否有跳变
查CPU或总线故障 |
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不正常 正常
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查总线（南桥或I/O） 刷新BIOS 程序或更
和BIOS芯片损坏 换BIOS芯片
注：BIOS电路的检修是在供电、时钟、复位都正常主板还未工作时，才采取的措施。BIOS电路一般是程序损坏为多，芯片其次。
键盘、鼠标口的检修流程图
测Vcc（E 点）对地阻值为180-380
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正常 不正常
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测A和C（500-800阻值） 查与Vcc 5V供电的跳线是否跳好或
| 是保险电阻（电感）损坏
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不正常 正常
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找到与之相连的 刷BIOS或更换I/O
电感L2 和L3，更换
注：键盘与鼠标口的管脚定义完全一样， 一般最容易损坏的元器件为L1、L2、L3，一般在并口、串口、软驱能用的情况下，I/O 一般不会坏，有时接口本身也可能损坏。
并口（打印口）检修流程图
测1-17针500-800 的阻值
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚找到所 更换接口插座或更换I/O 芯片
连接的地器件，更换
注：一般打印口的损坏最多的元件是与打印口相连的电阻、电感、或电容器最多，占总故障的百分之八十左右（如打印口旁边的排阻、排容、电阻、电容等）
串口检修流程图
测1-4针，6-9针（1000-1700的阻值）
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正常 不正常
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更换串口芯片 沿着不正常的针脚
或更换I/O 芯片 找到所连接的元件，更换
注：一般串口坏大多是所连的电阻、电容和串口芯片损坏率最高。如果在键盘口、鼠标口、打印口都能用的情况下，I/O 损坏的可能性非常少。 回到页首
U**口检修流程图
测1-5针（180-380）和2、3、6、7 针（400-600）
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚引线找到所 更换U**接口插座
连接的元件，更换
注：U**由南桥连接管理， 在主板能正常工作的情况下，U** 的损坏不会由南桥引起。易坏的元件有U** 所连的电阻、电容及U** 接口插座本身。 回到页首
IDE（硬盘口）检修流程图
测1-9、11-20、22-29、34-40针（500-700 阻值）
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚找到所连 若IDE 与南桥之间接有244、
接的电阻或排阻更换 245 芯片需更换或更换南桥
注：一般主板能正常显示时，南桥坏的可能性及少，IDE 口损坏大多是相连的排阻、电阻和244、245芯片损坏， 占百分之八十左右。
沿着不正常的针脚找到所 更换接口插座或更换I/O 芯片
连接的地器件，更换
注：一般打印口的损坏最多的元件是与打印口相连的电阻、电感、或电容器最多，占总故障的百分之八十左右（如打印口旁边的排阻、排容、电阻、电容等）
串口检修流程图
测1-4针，6-9针（1000-1700的阻值）
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正常 不正常
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更换串口芯片 沿着不正常的针脚
或更换I/O 芯片 找到所连接的元件，更换
注：一般串口坏大多是所连的电阻、电容和串口芯片损坏率最高。如果在键盘口、鼠标口、打印口都能用的情况下，I/O 损坏的可能性非常少。 回到页首
U**口检修流程图
测1-5针（180-380）和2、3、6、7 针（400-600）
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚引线找到所 更换U**接口插座
连接的元件，更换
注：U**由南桥连接管理， 在主板能正常工作的情况下，U** 的损坏不会由南桥引起。易坏的元件有U** 所连的电阻、电容及U** 接口插座本身。 回到页首
IDE（硬盘口）检修流程图
测1-9、11-20、22-29、34-40针（500-700 阻值）
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚找到所连 若IDE 与南桥之间接有244、
接的电阻或排阻更换 245 芯片需更换或更换南桥
注：一般主板能正常显示时，南桥坏的可能性及少，IDE 口损坏大多是相连的排阻、电阻和244、245芯片损坏， 占百分之八十左右。
FDD（软驱口）检修流程图
测18、20-34针（280-620 的阻值）
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚引线找到相连 更换I/O 或刷新BIOS
的元件，更换
注：FDD 口由I/O 直接管理， 在键盘口、鼠标口、打印口嗵正常使用的情况下， I/O 芯片损坏的可能性及小，大多是FDD 相连的电阻、电容损坏最多，在各引脚阻值正常时，刷BIOS 有时也能修好FDD 口。 回到页首
集成显卡接口检修流程图
测1-3（60-180）、12-15（500-800）的阻值
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不正常 正常
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沿着不正常的针脚引线 更换显卡接口插座或更换北桥芯
找到相连的元件，更换
注：集成显卡由北桥芯片管理，一般北桥坏的可能性不大，损坏较多的元件有与显卡接口连接的电感、电容、电阻和三极管较多。（这些元件大多都在显卡接口后面） 回到页首
集成声卡检修流程图
测Vcc 3.3V供电
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不正常 正常
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查3.3V供电所连的元件,更换 测晶振Y1的A,B(1.1-1.6V)启振电压
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正常 不正常
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查与MIC、耳机、OUT相连 更换晶振或更
的元件以及更换声卡接口 换声卡芯片