1.主要技术指标
ANT－20系列产品是ACTERNA公司生产的SDH网络综合分析仪,该仪表采用了先进的模块化设计，操作平台采用了Windows的界面风格，使操作使用方便易
学，在技术指标上，ANT－20系列产品在全部的功能要求上满足了ITU－T的最新O.172建议，并且在抖动和漂移的测试能力上还部分超越了ITU－T建议的要求，其中一些强大的功能是目前的SDH传输测试仪表上所独有的。在外观设计上，ANT－20系列产品采用了便携式的友好界面，并提供了触摸屏和操作笔，
非常适合工程技术人员，维护人员和研发人员的使用。ANT－20系列产品可同
时提供SDH版本和SONET版本，也可分别提供。
现首先就SDH版本的ANT－20SE主要技术性能介绍如下：
（1）ANT－20SE 支持的接口速率为：
SDH：STM－1（电口），STM－1（光口）,STM－4（光口），STM－16（光
口）;在光口提供可选的波长1310nm(和/或），1550nm
PDH: 2Mbit/s, 8Mbit/s, 34Mbit/s, 140Mbit/s
（2）ANT－20SE SDH版本支持的映射方式：C12，C3，C4以及ATM和Bulk填充
（3）ANT－20SE测试时钟可由仪表内部产生，也可由外部输入
（4）ANT－20SE支持PDH中的复用/解复用功能，64K/140M逐级，跳级均可
（5）ANT－20SE支持ATM业务的测试，提供STM－1/4/16映射，STM－4c映
射,STM－16c映射,E4映射，E3映射,DS3映射和E1映射；具有两种ATM
测试模块：ATM模块和BAG模块，适用于PVC和SVC的测试
（6）在抖动和漂移的产生与测试方面,可从PDH的2Mbit/s，8Mbit/s，
34Mbit/s，140Mbit/s，一直到SDH的155Mbit/s,622Mbit/s和2.5Gbit/s,并
且在不需另外的PC机情况下可完成MTIE/TDEV的脱线分析，在漂移的发生方
面，ANT－20SE不仅可生成符合O.172建议的12uHz－10Hz的调制信号，而且
ANT－20SE比ITU－T建议做得更好，调制频段为10uHz－100Hz。其次，在抖动测试方面，ANT－20SE可做到0.1Hz以上，比O.172的10Hz以上要求要好。
（7）ANT－20SE提供远程控制和远程操作功能，可通过V.24或GPIB进行远程控制和操作。
（8）ANT－20SE提供丰富的自动测试序列，可用于集成和生产线测试
（9）ANT－20SE不仅提供ITU－T的标准滤波器，并且提供了比ITU－T标准更 多的滤波器
（10）ANT－20SE提供APS倒误时间的测试和时延测试，精度可达1ms
（11）ANT－20SE提供断电保护功能，可使已测试的结果不丢失
（12）ANT－20SE可长时间在线监测。监测时间可达99天之久，并且测试结果 可打印输出，打印报告具有用户自定义的风格
（13）ANT－20SE在电口上提供75Ω的端口，支路口提供75Ω和120Ω两种阻抗端口，光口上提供通用的光适配器
（14）ANT－20SE提供通过模式，可对支路信号进行分解和插入，并且在通过 模式下对信号进行加抖和加误码的功能
（15）ANT－20SE提供字节捕捉功能，可对开销字节进行捕捉
（16）ANT－20SE是目前唯一能提供TCM（串联连接监测）事件发生的仪表
（17）ANT－20SE提供自动扫描和自动查找功能
（18）ANT－20SE提供了触发功能
（19）ANT－20SE内部时钟稳定度为±2PPM
以上是ANT－20SE的主要技术指标，详细的资料请向公司索取
2.前、后（侧）板解释
（1）ANT－20SE的正面板如图2-1
图2-1
I 是两排告警指示灯，左面为历史告警，右面为当前告警
II 是大显示屏，根据用户要求可配置成触摸式
III 是热键功能指示和键盘状态指示
IV 是热键
V 是触摸屏操作笔
VI 是嵌入式键盘
（2）ANT－20SE正面板的两侧是通风口，并且在内部安装了空气过滤片
（3）ANT－20SE底部有支架，可将仪表支起来；也可用仪表的板盖将仪表支起
来
（4）ANT－20SE的所有测试端口在顶部，每一个测试端口都有编号，逐项介绍
如下：
〖01〗外接鼠标接口
〖02〗PCMCIA接口
〖03〗外接键盘接口
〖04〗外接显示器接口
〖05〗打印机接口
〖06〗V.24接口
〖08〗软盘驱动器
〖90〗、〖91〗、〖92〗为分光器的三个接口，其中〖90〗为100％输入口，
〖91〗为10％输出口，〖92〗为90％输出口
〖10〗、〖11〗为75阻抗支路口，〖10〗为输入口，〖11〗为输出口 〖12〗、〖13〗为120阻抗支路口，〖12〗为输入口，〖13〗为输出口 〖14〗、〖15〗为155Mbit/s线路电口，〖14〗为输入口，〖15〗为输出口 同时，该两端口还可通过软件设置成任何速率的PDH端口，（2Mbit/s、8Mbit/s 34Mbit/s 140Mbit/s ）
〖16〗为622Mbit/s电口输入端
〖17〗、〖18〗为155Mbit/s和622Mbit/s的光口，〖17〗为输入口，〖18〗为输出口
〖21〗为155Mbit/s和622Mbit/s的数据通道输入/输出口
〖22〗为时钟输出口
〖25〗为外接参考时钟输入口
〖26〗为触发输入,输出端口
〖30〗抖动外调制信号输入口，（适用于622Mbit/s 及其以下速率） 〖31〗抖动解调输出口（适用于622Mbit/s 及其以下速率）
〖35〗漂移测试参考时钟输入（适用于622Mbit/s 及其以下速率） 〖40〗STM－16 DCC/ECC通道
〖41〗2.5GHz时钟输出
〖43〗2.5G bit/s电口输入
〖44〗2.5G bit/s光口输入
〖46〗2.5G bit/s电口输出
〖47〗2.5G bit/s光口输出
〖50〗2.5G bit/s抖动外调制信号输入
〖51〗2.5G bit/s抖动解调输出
〖54〗2.5G bit/s漂移测试参考时钟输入
3. 菜单结构
ANT－20E的软件采用了“虚仪表”的设计思想，所谓“虚仪表”就是完成一定对应测试功能的软件模块，在ANT－20E的SDH版本共提供了
Anomaly/DefectAnalyser,Anomaly/DefectInsertion,JitterGenerator/Analyser,OverheadGenerator,OverheadAnalyser,PDHGenerator/Analyser,PerformanceAnalysis,PointerGenerator,PointerAnalyser9个虚仪表，分别完成异常/缺陷的分析，异常/缺陷的发生，抖动发生和测试，开销发生，开销分析,PDH发生/分析，性能分析，指针发生，指针分析9个功能，还有一个虚仪表，SignalStructure（信号结构）。用来完成测试信号结构的设置和一些其他的设置，所有的虚仪表由Application虚仪表来管理。每一个虚仪表都有自己的菜单，用于各对应测试项目参数的设定，图3－1显示了“应用”主虚仪表和“信号结构”虚仪表的状况。
图3-1
各个虚仪表的调用和删除通过“应用”虚仪表的Instruments（仪表）菜单来操作，在Instruments菜单中有Add&Remove项，点取该项，可弹出对话框如图3－2
图3-2
通过选择左边框中的虚仪表，再按Add按钮，可选中该虚仪表到右边框中，再按OK按钮确认，完成虚仪表的添加。同时，也可选择右边框中的虚仪表，按Remove按钮，使被选的虚仪表到左边框中，按OK确认，完成对虚仪表的删除。
在信号结构虚仪表中，通过Edit菜单中的SignalStructure完成对信号结构的编
辑，选中该项时，会弹出编辑对话框如图3－3，通过该对话框完成对信号结构的编辑，其他各个虚仪表及其菜单会在操作方法中详细描述。
图3-3
4. 操作方法
4.1差错测试（比特差错，块差错，差错性能分析）
①测试连接图如下：
测试端口速率可以通过信号结构的编辑功能进行设置，如果在电口上进行测试，则选择〖14〗、〖15〗端口，其速率可设置成2Mbit/s、8Mbit/s、
34Mbit/s、140Mbit/s和155Mbit/s。如果在光口上进行测试，则选择〖17〗、〖18〗端口，该端口速率可设置为155Mbit/s和622Mbit/s，如果测试端口速率为2.5Gbit/s，则选择端口〖44〗、〖47〗
②测试时所用虚仪表有：
Ⅰ. Application （应用）虚仪表
Ⅱ. Signal Structure （信号结构）虚仪表
Ⅲ. Anomaly / Defect Analyser（异常/ 缺陷分析）虚仪表
Ⅳ. Performance Analysis （性能分析）虚仪表
第一步：
选择Application虚仪表中的Instruments菜单中的Add &Remove对话框 如图4-1：
图4-1
第二步：
选择Signal Structure, Anomaly / Defect Analyser, Performance
Analysis 到右边Instruments Used框中，然后按OK确认，选择后的界面如图4-2：
图4-2
第三步：
在Signal Structure中编辑测试接口的速率，以下给出几个典型的编辑 过程。
①2Mbit/s的PDH速率：选择Tx按钮，按Clear键，在PDH框中选择2M，并选择成帧或不成帧以及测试图案，按Tx＝>Rx键，使发端和收端一致
②155Mbit/s的SDH速率：选择Tx按钮，按Clear键，在SDH框中选择STM－1，在Interface框中选择Electric（电口）或Optical（光口）管理单元选择AU4，在Mapping框中选择VC12，在PDH框中选择2M，并在PDHMode框中选择成帧或不成帧，以及在Settings框中选择映射为Async，2M帧结构类型，测试图案长度。
第四步：
将Anomaly/Defect Analyser调到前台，可在View菜单中选择观察模
式，该虚仪表提供了三种观察模式：直方图、表格、统计方式。显示区域划分成两部分，用于分别显示Anomaly（异常）和Defect（缺陷），在显示的参数中用户可以选择All或User，选中User时表明用户通过Filter菜单选择自己感兴趣参数进行观察，在Setting菜单中可选择比特，或块。显示结果大致如图4-3：
图4-3
第五步：
在做差错测试时，可同时完成性能分析的评估，此时，将Performance
Analysis调到前台。评估所采用的ITU－T的建议，可从Analysis菜单中选择，也可直接选择相应的按钮，针对不同的建议，Setting菜单中可完成不同参数的设置，在做性能评估时，可从Hierarchy菜单中选择评估对象，评估的结果会以Accepted或Rejected的方式给出来。显示结果如图4-4示例：
图4-4
第六步：当做完了所有的设置之后，可以通过F5热键启动测试，F6热键停止测试。也可通过Application虚仪表中的Measurement菜单中Start和Stop来启动和停止测试。
4.2抖动漂移测试：
1. 输出抖动
①测试连接如图：
有3种方式来提供定时、选择Signal Structure虚仪表中的Interface菜单Settings弹
出的对话框如图4-5：
图4-5
在Clock Source中选择：Rx（从线路中提取时钟）或External（外部时钟），
外时钟有2种方式：2Mbits/s，或2MHz。
在连接①中，选择Rx，此时仪表从线路中提取时钟；
在连接②中，选择外时钟，此时仪表的时钟由设备的时钟输出来供给； 在连接③中，也选择外时钟，此时，设备和仪表都使用外部时钟源。
②在抖动和漂移的测试中，除了要使用Application虚仪表和Signal Smucture虚
仪表，还要添加Jitter Generator / Analyser虚仪表，该虚仪表如图4-6：
图4-6
测试端口速率设置如前所述，在测试输出抖动时选择PP_RMS按钮，该界面中提供了Tx，Rx两部分，Tx部分用于选择发送端抖动调制信号的幅值和频率，当按下TxON按钮时，将在仪表发端施加抖动，在不需时，TxON按钮应弹起，在Rx部分提供了测试范围选择和测试滤波器选择，小的测试范围会使测试精度提高，测试滤波器的选择应符合ITU－T规定的滤波器，当设置完毕后，按F5启动测试，结果会以抖动峰峰值的最大值和瞬时值形式显示出来，同时给出正峰和负峰的最大值和瞬时值以及RMS均方根值。选择PP_PH按钮时,过相的计数也在结果中给出，过相的门限在SET按钮中设定，默认值为＋0.5UI和－0.5UI。测试的结果有两种方式显示，表格式和图形式，显示结果方式的选择通过View菜单中来选择，图形方式显示如图4_7：可通过光标操作达到任一测试时刻的抖动值。
图4-7
2. 抖动/漂移容限
①测试连接图如下：
②在JitterGenerator/Analyser虚仪表中选择MTJ按钮，在该界面下有Start按键和Stop按键，通过按Start按钮即可开始进行输入抖动/
漂移容限的测
试，测试结果也有两中方式显示：表格式和图形式，测试设置有3个，
ErrorSource：设定判断参数，Threshold：设定判断门限，Settling time：设置恢复时间，以下图4-8是测试的结果样例。
图4-8
3. 映射抖动
① 测试连接图如下:
在Tx端，端口速率为SDH信号速率，Rx端为PDH速率，在测试中，仪表和设备同步起来，此时，仪表不能选用内时钟，也不能从接收端提取时钟，而应选择使用外时钟，外时钟可从单独的时钟单元来供给。
②在进行映射抖动测试时，总共要使用4个虚仪表：
Application（应用）虚仪表，
Signal Structure（信号结构）虚仪表，
Jitter Generator /Analyse（抖动发生/分析）虚仪表，
PDH Generator / Analyser（PDH发生/分析）虚仪表。
在JitterGenerator/Analyser虚仪表中，选择PP_RMS按钮或PP_PH按钮，并选择适当的测试范围和测试滤波器，在PDHGenerator/Analyser虚仪表中，对发送信号施加一定的频偏。如图4-9：
图4-9
这时可以启动测试，测试过程中可不断改变频偏，测试的结果在Jitter Generator / Analyser 虚仪表中观察。
4. 结合抖动
结合抖动的测试连接方法如下：
测试结合抖动不仅需要映射抖动的4个虚仪表，还需添加另一个虚仪表，即 PointerGenerator（指针发生），在测试结合抖动时我们需要对STM－n信号施加两种影响：
① 在STM-n净荷上加频偏
②在STM-n上施加指针调整。
图4-10
指针序列的选择可在PointerGenerator中进行，用户先选定指针类型（AU指针或TU指针），然后可以选定一个标准的ITU－T指针序列，也可以自己定义序列，各序列的定义由n值，T1，T2，T3，T4和T5等时间来决定。各序列的施加通过AUON按钮或TUON按钮来进行，AUON按钮表示指针序列施加在AU指针上，TUON按钮表示指针序列施加在TU指针上，AU和TU指针还可以同时按下，使AU指针序列和TU指针序列同时施加。以下是测试结合抖动时ITU－T规定的a序列对应的设置情况，a序列的各个参数也列在下面。 其 余 各 序 列 在 附 录 中 有 详 细 介 绍。
测试结果的观察也在Jitter Generator /Analyser 中进行，选择AM OFF按钮即可。
5. 抖动/漂移传递函数测试
①该测试对象针对的是再生器，其连接方法如下：
②该参数的测试通过Jitter Generator/ Analyser 中的JTF按钮进行，该参数的观察
也有两种方式：表格式和图形式。和MTJ一样，在图形方式下，测试结果是否合格会通过与模板的对比显示出来。
图4-11
在测试JTF之前，需要对仪表校准，校准时会出现提示，要求把仪表的Tx端和Rx端连接起来，校准完毕后，将再生器接入链路，按Start按钮开始测试。
4.3 指针测试
①连接图如下：
②在做指针测试时需使用Pointer Analyzer虚仪表
在该虚仪表中有两部分，上端有以数字形式显示的AU和TU值，下端是以图形方式显示的指针随时间变化的曲线和指针每次调整的数值，在菜单中或按钮中选择AU或TU，图形显示区域将显示相应的指针，测试完毕后，可用光标移动按钮移动光标，以显示任一时刻的指针值，同时，还可对时间轴进行放大和缩小，按F5键开始测试，F6键停止测试。
图4-12
4.4 开销测试
① 测试开销时的在线连接方法与指针测试在线连接方法相同，脱线方式如下
② 所使用的虚仪表为Overhead Analyser 和Overhead Generator。针对不同的字节，有不同的方式进行处理。
图4-13
Ⅰ，所有的字节都可以进行单独编辑
Ⅱ，所有的字节除了可以进行单独编辑外，还可以添充伪随机序列作测试，此时，收、发端都应按下TPB按钮，另外，还可以人为编辑字节序列，此时，在发端可按下SQ按钮，弹出的对话框如图4-14：
图4-14
Ⅲ，对于J0，J1，J2字节，具有通道标识符的捕捉功能和发送功能，在发端按 TI可以编辑16字节长的字符串，作为通道标识符发送，编辑界面如图4-15：
图4-15
用OK确认。在收端，首先在SET功能下，选中J0，J1或J2字节（用OK确认）此时各对应字节的TI功能使能，按下TI功能，即可捕捉各对应通道追踪字节的标识符。
Ⅳ，对于D1－D3，D4－D12字节可以使用TPG功能，此时，伪随机序列填充到联合字节中去，对于D1－D3字节将填入3个字节，对于D4－D12字节将填入9个字节，用以完成联合通道的误码功能测试，误码的观察将使用Anomaly /Defect Analyser来评估。
Ⅴ，除此之外，在收端还可对任意字节进行捕捉，这一功能尤其适合于K1，K2字节和S1字节，此时，按CAP按钮，将弹出对话框如图4-16：
图4-16
此时，先选择捕捉字节的类型，通过Compare的下拉框中选择或输入，然后按下Start键，开始对字节进行捕捉，任何符合要求的字节都会捕捉下来，可以对捕捉到的字节打印输出做进一步的分析。
Ⅵ，ANT－20E支持TCM（串联连接监视）功能，按下TCM按钮可对各种TCM告警和事件进行监测，并可捕捉TCM标识符，在最新的ANT－20EV7.0中，支持TCM事件的发生功能，用户可以激发各种TCM事件和编辑TCM标识符，其分析界面如图4-17所示：
图
4-17
4.5 速率（钟频）测试：
在SignalStructure的按钮条中有Rx:ppm的显示，该显示表示出了接收到的信号速率的频偏，通过该相对值，可以得出实际的信号速率。
4.6 倒换（时间）测试
① 倒换协议的测试可以通过对K1，K2，K3，K4等字节的捕捉来完成，测试连接如图：
（ANT－20E位置在各备用链路上，虚线链路）对倒换字节的捕捉通过Overhead Analyser进行，按CAP按钮。
②对倒换时间的测试，ANT－20E接在终端，终端接口可以是PDH口也可以是SDH的STM－1口，测试时选择SignalStructure的Time菜单，该菜单中有APS项，选中该项，将弹出对话框如图4-18：
图4-18
按下Start钮，将给出提示，如图4-19：
图4-19
按提示断掉主用光纤，此时，将测出倒换时间如图4-20：
图4-20
4.7 在线测试：
① 在电口上做在线测试需做两个地方的设置
Ⅰ.在Signal Structure的Interface菜单中有Sensitivity项目，该项目中有两个选择
ITU－T和PMP，在线测试时选择PMP。
Ⅱ.在SignalStructure的Edit菜单下的编辑界面Rx的TestPatter中，应选
择Traffic(业务)项目
② 在光口上做在线监测时应选用分光器进行，连接如下图例3所示：
4.8测试结果打印
各个虚仪表中都有自己的打印菜单，打印可以定制，编辑用户的打印风格，编辑框如图4-21：
图4-21
打印机的安装通过Windows系统来完成，ANT－20E在硬盘上做了Windows安装盘的备份，各种打印机的驱动程序都能找到。
5.操作使用注意事项
Ⅰ,在2.5Gbit/s的光口上不能直接自环，否则会损坏仪表光接收端口 Ⅱ,2.5Gbit/s自环时，光纤中需加衰耗器
Ⅲ,不能用眼睛直视光口输出，以免损伤眼睛
Ⅳ,硬盘在旋转时，尽量不要搬运仪表，否则会损坏硬盘。
6. 附 录
一,测 试结 合 抖 动 时， 各 指 针 序 列 及 其 对 应 参 数： a 序 列: 极 性 相 反 的 单 指 针
b 序 列: 规 则
单 指 针 加 一
个 双
指
针
以 下 各 指 针 序 列 在 ANT－20 上 的相 应设 置 以2Mbit/s 接 口 为 例。
c 序 列:
漏 掉 一 个 指 针 的 规 则 单 指 针 d 序 列: 极 性 相 反 的 双 指 针
a 序 列: 极 性 相 反 的 单 指 针
n=1, T1>=10s, T4=2*T1.
b 序 列: 规 则 单 指 针 加 一 个 双 指 针
n=10, T2=750ms, T3=2ms, T4=n*T2.
T3
c 序 列: 漏 掉 一 个 指 针 的 规 则 单 指 针
n=10, T2=750ms, T5=m*T2 (1
d 序 列: 极 性 相 反 的 双 指 针
n=2, T2=2ms, T1>=10s, T4=2*T1.
二,ANT-20SE前面板告警说明
LOS Loss Of Signal
TSE Test Sequence Error (Bit Err.) LSS Loss of Sequence Synchron. LTI Loss of incoming Timing Ref. OOF Out Of Frame LOF Loss Of Frame B1 Regenerator Section BIP Err. B2 Multiplex Section BIP Err. MS-AIS Multiplex Section AIS
MS-RDI Mux Sect. Remote Defect Ind. MS-REI Mux Sect. Remote Errro Ind. AU-LOP Loss Of AU Pointer AU-NDF New Data Flag AU Pointer AU-AIS AU Alarm Ind. Signal AU-PJE AU Pointer Just. Event B3 High Path BIP Errors HP-UNEQ High Path Unequipped
HP-RDI
High Path Remote Defect Ind.
信号丢失
测试序列错(比特误码) 同步序列丢失
参考时钟输入丢失 贞失步 贞丢失 B1错 B2错
复用段AIS告警
复用段远端缺陷指示 复用段远端错误指示 AU指针丢失
AU指针新数据标识 AU告警指示信号 AU指针调整事件 B3错
高阶通道未装配
高阶通道远端缺陷指示
31
HP-REI High Path Remote Error Ind. HP-TIM High Path Trace Ident. Mismatch HP-PLM High Path Payload Label Mism. TU-LOP Loss Of TU Pointer TU-NDF New Data Flag TU Pointer TU-AIS TU AIS TU-LOM Loss Of Multiframe BIP-2/B3 Low Path BIP Errors LP-UNEQ Low Path Unequipped LP-RDI Low Path Remote Defect Ind. LP-REI Low Path Remote Error Ind. LP-RFI Low Path Remote Failure Ind. LP-TIM Low Path Trace Ident. Mismatch LP-PLM Low Path Payload Label Mism.
高阶通道远端错误指示 高阶通道追踪标识失配 高阶通道净荷失配 TU指针丢失
TU指针新数据标识 TU告警指示信号 复贞丢失
底阶通道误码监测错 底阶通道未装配
底阶通道远端缺陷指示 底阶通道远端错误指示 底阶通道远端失效指示 底阶通道追踪标识失配 底阶通道净荷失配
32